低軌道衛星表面充電模擬
衛星在太空運行過程中,在周圍等離子體和光電效應等綜合作用下,會帶上與周圍等離子體環境不同的懸浮電位,這個電位會影響星上測量載荷的測量精度和測量范圍.利用航天器與等離子體相互作用系統軟件SPIS,采用粒子分室法模擬了低軌道(710 km)衛星的充電特性.結果表明,由于等離子體溫度低、濃度高,衛星的充電電位較低(-0.719 V);而周圍的等離子體環境受衛星尾跡效應的影響顯著.
作 者： 楊集 陳賢祥 夏善紅 YANG Ji CHEN Xian-xiang XIA Shan-hong 作者單位： 楊集,YANG Ji(中國科學院,電子學研究所,傳感技術國家重點實驗室,北京,100080;中國科學院,研究生院,北京,100039)陳賢祥,夏善紅,CHEN Xian-xiang,XIA Shan-hong(中國科學院,電子學研究所,傳感技術國家重點實驗室,北京,100080)
刊 名： 微納電子技術 ISTIC PKU 英文刊名： MICRONANOELECTRONIC TECHNOLOGY 年，卷(期)： 2007 44(7) 分類號： V1 關鍵詞： 表面充電 低軌道 尾跡效應【低軌道衛星表面充電模擬】相關文章：
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