波片位相延遲測量的雙λ/4波片法
在對波片延遲量的測量中常因光源起伏影響測量精度,出現較大的測量誤差,為了避開光源強度起伏的影響,提高系統的測量精度,減小測量誤差,用兩個標準λ/4波片與待測波片組合,使其滿足一定條件等效為旋光器,搭建了一套測量系統,用角度測量替代對光強的直接測量.實驗結果表明,該系統可有效避免光源強度起伏對測量結果的影響,測量精度可達0.5°.與傳統測量方法相比,該測量系統具有構造簡單,不受光源起伏影響,以及測量精度高等特點,是一種便捷有效的測量方法.
作 者： 王蘭 李國華 孔超 賈朋 WANG Lan LI Guo-hua KONG Chao JIA Peng 作者單位： 曲阜師范大學,激光研究所,曲阜,273165 刊 名： 激光技術 ISTIC PKU 英文刊名： LASER TECHNOLOGY 年，卷(期)： 2007 31(6) 分類號： O432.2 關鍵詞： 激光技術 偏振光 波片 位相延遲【波片位相延遲測量的雙λ/4波片法】相關文章：
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